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100ナノメートルオーダーのDLC膜の“硬さ”を測定 | 東陽テクニカ | “はかる”技術で未来を創る | 東陽テクニカルマガジン
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TFA Thin-Film Analyzer: 薄膜の熱伝導率測定
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X線回折による薄膜評価測定|事業概要
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薄膜特性評価 | 研究開発用検査装置 | 日本セミラボ株式会社
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測定事例】 超伝導薄膜の熱浸透率の分布評価 : 熱物性ブログ ベテル ハドソン研究所
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薄膜の研究のための測定器 - LINSEIS
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in-planeX線回折法による薄膜・基板などの最表面のスペクトル測定 | KISTEC CONNECT | 神奈川県立産業技術総合研究所
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TG-DTAによるフィルム材・薄膜の比熱評価 | 株式会社日産アーク
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平行レーザー群を用いた薄膜の内部応力測定法 | 株式会社日産アーク
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高分子薄膜の電気特性評価
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薄膜物性評価 | 受託分析サービス | 東芝ナノアナリシス株式会社
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「原子層堆積による成膜と薄膜評価技術」
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薄膜材料の電子・光物性評価技術 | JFCC最先端機器・技術
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B-XRD2030 - X線反射率法による 金属薄膜の膜厚の面内均一性評価
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